|
|
|
X 射線熒光測試儀 |
|
| 型 號：XDAL |
| 品 牌：德國菲希爾Fischer |
| 技術(shù)指標(biāo)：不適合測量十分細(xì)小的結(jié)構(gòu) |
 |
麗江X 射線熒光測試儀-XDAL-德國菲希爾Fischer
X 射線熒光測試儀，儀器儀表類，帶有可編程的 X/Y平臺和Z軸，大量程涂層測厚儀，可自動測量鍍層厚度和分析材料組分
特點
-
配備了半導(dǎo)體探測器，高溫涂層測厚儀，由于有更好的信噪比，在線式涂層測厚儀，能更精確地進(jìn)行元素分析和薄鍍層測量
-
使用微聚焦管可以測量較小的測量點，德國進(jìn)口涂層測厚儀，但因為其信號量較低，涂層測厚儀原理，不適合測量十分細(xì)小的結(jié)構(gòu)
-
底部C型開槽的大容量測量艙
-
有彈出功能的快速、可編程XY平臺
典型應(yīng)用領(lǐng)域
-
鍍層和合金的材料分析（還適用于薄鍍層和低含量成分）
-
來料檢驗，涂層測厚儀廠家直銷，生產(chǎn)監(jiān)控
-
研究和開發(fā)
-
電子工業(yè)
-
接插件和觸點
-
黃金、珠寶和鐘表工業(yè)
-
可以測量數(shù)納米薄的鍍層，涂層測厚儀 北京時代，如印刷線路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層
-
痕量元素分析
-
在有“高可靠性”要求的應(yīng)用中確定鉛（Pb）含量
-
硬質(zhì)鍍層分析
|
