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BETASCOPE作為臺(tái)式儀器MMS和MMS PC2的測(cè)量模塊，南昌 涂層測(cè)厚儀，是根據(jù)β背散射法，mpo 涂層測(cè)厚儀，由不同材料間的差異，涂層測(cè)厚儀器，來測(cè)量涂鍍層厚度的，fisher涂層測(cè)厚儀，特別適用于測(cè)量較薄的有機(jī)涂層。

特點(diǎn)

• MMS系列儀器內(nèi)的模塊BETASCOPE® 的工作原理是基于β背散射法.

• 只要涂層材料元素和基材材料元素間原子序數(shù)的差大于5，涂層磁性測(cè)厚儀，則幾乎任何基材上的任何材料的涂層厚度都是可以測(cè)量的 

典型應(yīng)用領(lǐng)域

• 不銹鋼上的納米涂層（防指紋）
• 太陽能電池涂層（玻璃上的CdTe涂層）
• 電鍍廠中經(jīng)濟(jì)地使用手持探頭測(cè)量單鍍層厚度）
• 在涂料生產(chǎn)和應(yīng)用過程中，涂層測(cè)厚儀檢定規(guī)程，用于測(cè)量金屬基材上有機(jī)涂層的厚度
• 在金屬板制造和加工工業(yè)中，涂層測(cè)厚儀探頭，用于對(duì)油膜層、"Bonazinc"涂層等防腐涂層進(jìn)行質(zhì)量監(jiān)控
• 薄膜，廈門涂層測(cè)厚儀，紡織面料